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1.
著者: 李刚
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书 , 索书号: TP332/z71
2.
著者: Keith Barr
出版社: 科学出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/z17
3.
著者: 格尼茨
出版社: 中信出版集团股份有限公司   出版日期: 2023
文献类型: 图书 , 索书号: F069.9/h32
4.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2005
文献类型: 图书 , 索书号: TN470.7/z1
5.
出版社: 化学工业出版社   出版日期: 2012
文献类型: 图书 , 索书号: TN911.7/z63*
6.
著者: 万坚
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2012
文献类型: 图书 , 索书号: TN911.7/d2
7.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书 , 索书号: TN450.7/z1
8.
著者: 黄晓宗
出版社: 哈尔滨工业大学出版社   出版日期: 2023
文献类型: 图书 , 索书号: TN431.1/2700/1
9.
现代集成电路测试技术 已借32次.
著者: 时万春
出版社: 化学工业出版社   出版日期: 2006
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/z1
10.
著者: 洪志良
出版社: 科学出版社   出版日期: 2011
文献类型: 图书 , 索书号: TN431.1/z3=2